AM0 光譜范圍

350-1800nm

AM0 光源等級(jí)

光譜匹配度 0.75-1.25 A
輻照度不均勻度 ≤2% A
輻照度不穩(wěn)定度 ≤1% A+

AM1.5 光譜范圍

300-1200nm

輻照度范圍

200W/㎡~1400W/㎡

測(cè)試面積

240*240mm
可定制其他尺寸

測(cè)試技術(shù)

標(biāo)配I-V、V-I掃描方式，具備Mppt（最大功率點(diǎn)追蹤）、I-t（定電壓）、動(dòng)態(tài)測(cè)量法等多種測(cè)試技術(shù)，同時(shí)集成逐點(diǎn)掃描方式（滿足最短≤0.2s步進(jìn)的掃描方式），可通過軟件切換

可測(cè)試電池

常規(guī)多晶、Perc、Topcon、BC、異質(zhì)結(jié)、CIGS、GaAs、CdTe、鈣鈦礦、鈣鈦礦疊層、砷化鎵電池、多結(jié)砷化鎵電池等

可增配項(xiàng)

集成溫控平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)溫度系數(shù)測(cè)試
集成多通道采集系統(tǒng)（通道數(shù)量可定制）
集成EL測(cè)試系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)同工位IV/EL測(cè)試
可定制BC、0BB、鈣鈦礦等電池適配工裝
集成IR紅外熱像儀，實(shí)現(xiàn)熱斑測(cè)試
手套箱（米開羅那）